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光学半导体微振动测试
光学半导体微振动测试
发布时间:2021-08-06 20:29:25

在半导体制造(如EUV)、电子显微镜、精密仪器、航天电子、光学仪器等领域,其精密程度容易受到来自设备内部如电机、风扇,或外部如交通、人员走动的影响,即使轻微的振动也可能影响产品的性能。


服务范围

1.  光刻区、量测区、关键工艺设备安装区域的环境振动评估与验收。设备安装后的振动验收测试;

2.  高精度传感器(MEMS惯性器件)、晶体振荡器、硬盘驱动器、激光设备、光学平台等的振动敏感度测试、可靠性验证。

3.  服务器机架、硬盘存储阵列区域的振动评估

4.  电子显微镜实验室、精密计量实验室、光学实验室的振动评估与隔振设计验证

5.  定位引起设备性能下降或工艺问题的振动源头

6.  测试主动隔振台、被动气浮隔振台等隔振装置的效果


参考的标准

ISO: ISO 1940 (平衡), ISO 10816 (机器振动), ISO 20816 (特定机器振动), ISO 2631 (人体暴露)

IEC: 各类电子设备的环境试验标准中可能包含振动要求。

SEMI: 半导体行业的关键标准!

SEMI S2/S8: 设备安全与环境要求,包含振动限制。

SEMI S22: 最重要的微振动标准之一。定义了晶圆厂内设备安装区域楼板振动的速度谱密度(VSD 或加速度均方根值(Grms 的验收标准,按频率范围划分了不同等级(如VC-A, VC-B, ..., VC-G, VC-I)。


测试案例

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